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New horizons in testing : latent trait test theory and computarized adaptative testing / edited by David J. Weiss

Contributor(s): Weiss, David J., ed.
Material type: TextTextPublisher: New York : Academic Press, c1983Description: 345 p. : il.ISBN: 0127427805.Subject(s): MEDICIONDDC classification: 153.9
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Item type Current location Collection Call number Status Date due Barcode
Libro Libro Biblioteca Juan Alberto Aragón Bateman
Colección Abierta 153.9 / N29 (Browse shelf) Available 001811

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